NVI-FZH III

VISUAL INSPECTOR NVI-FZH III

卓越した検査性能と高速性能にさらなる磨きをかけたハイエンドAOI

業界最高レベルの精度を誇る当社独自の良否判定アルゴリズム「改良型判別分析」と多段多分割照明&斜めカメラの組み合わせによって高い検査品質を実現し、さらに高速性能に磨きをかけた、インライン外観検査装置のハイエンドモデルです。車載用実装基板や高密度実装基板などにおいて高い信頼性をお求めのユーザー様に最適です。


NVIシリーズ最大の特長 – 勘や経験に頼らない高精度な検査性能

業界最高レベルの精度を誇る良否判定アルゴリズム「改良型判別分析」を搭載。統計的検査手法により、勘や経験など人的変動要素を排除します。また、良品基板のみで検査立上げを行う「OKジャッジ」機能、さらにはフロー形式で検査プログラム作成を支援する「Easy Set-Up」も搭載し、垂直立上げに寄与します。

改良型判別分析

  • 統計的手法を用いて均一で高精度な検査プログラムを生成します
  • リード浮きやチップ浮きなど、はんだ付け不良の中でも判定が困難とされる項目でも高い精度で検出することができます
  • 検査データを多数蓄積することで検査精度がさらに向上します
  • 事前にご用意頂くもの:良品基板・不良基板

OKジャッジ

  • 登録した良品サンプルのみを用いて検査プログラムを生成します
  • 不良サンプルの準備は不要で、垂直立上げや簡易検査に最適です
  • 良品以外は全て不良という基準に基づき、
  • 未知の不良も検出することができます
  • 事前にご用意頂くもの:良品基板・不良基板 ※良品基板のみでOK!

Easy Set-Up

  • 検査プログラムの作成に必要な作業を、手順に沿った操作で支援します
  • 部品種や搭載位置等の数値入力・設定は不要で垂直立上げや簡易検査に最適です
  • 部品検査はもちろんのこと、フィレット検査に必要なデータも自動的に生成します
  • 事前にご用意頂くもの:CADデータ・良品基板・ベアボード or ガーバデータ

検査アルゴリズムをさらに強化

文字認識・検査機能強化

検査時に撮影・取得した画像に対し、輝度変換処理・フィルタ処理を行う機能を新たに追加しました。これにより、文字検出率を最大で約180%(弊社従来比)向上させることができます。

基板全面の異物検査

全面異物検査ウィンドウを設定する事が可能となり、基板上の意図せぬはんだボールなどの異物を容易に検出できるようになりました。検査領域の設定はドラッグ&ドロップで簡単に指定可能。検出対象とする異物は、その大きさを設定するだけで、自動検査実行時に検出することができます。

斜めカメラによる検査の強化 (ディスクリート部品 ブローホール検査)

ディスクリート部品のはんだ接続部など、垂直カメラではとらえにくい傾斜のついた箇所を斜め方向から撮影することにより、対象部位をはっきりと撮影することができ、この画像を用いて今回新たに追加した検査アルゴリズムを実行することで、ブローホール等の欠陥を効率的に検出し、良否判定することが可能となります。


多段分割照明・高分解能斜めカメラで検査精度をさらに向上

多段多分割照明

  • 部品実装状況・特長を際立てて表示することができます。

高分解能斜めカメラ

  • 4方向から撮影することができる斜めカメラを用いたによる再検査で、良否判定をさらに確実なものとします。
  • また、斜めカメラ画像により目視リワーク作業を行うことが可能で、目視リワーク装置分のコストを削減することができます。(オプション)

高速タクトを実現する高性能ハードウェア

ハードウェアの最適化により、標準モデル(NVI-FZ)と比較して最大35%もの高速化を実現。さらに、最大7台まで接続可能なサブ画像処理ユニットにより、ラインタクトに柔軟に追従します。


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